Pin bị phồng là một trong những dấu hiệu thường gặp ở các dòng smartphone, không chỉ ảnh hưởng đến thời lượng và tuổi thọ pin mà còn tiềm ẩn nhiều nguy cơ cháy nổ, gây mất an toàn cho người sử dụng.
Theo báo cáo từ MyDrivers, Xiaomi mới đây vừa được cấp bằng sáng chế cho công nghệ pin lithium mới nhằm giải quyết vấn đề nói trên. Công nghệ này có thể phát hiện và thông báo cho người dùng về tình trạng lão hoá của pin. Nói cách khác, nó có khả năng phát hiện xem pin có bị phồng hay không và đưa ra cảnh báo tới người dùng, tránh được rủi ro có thể xảy ra.
Trong phần mô tả, Xiaomi cho biết "Bằng sáng chế liên quan đến phương pháp phát hiện pin bị phồng, bao gồm: ngăn chứa pin, nắp lưng pin, gốm áp điện và mạch phát hiện dòng điện. Gốm áp điện sẽ được bố trí ở mặt trong của nắp lưng pin và nằm vị trí đối diện với pin, hoặc dưới cùng của ngăn chứa pin. Mạch phát hiện dòng điện được kết nối với gốm áp điện và được dùng để phát hiện xem gốm áp điện có sự xuất hiện của dòng điện hay không. Nếu gốm áp điện có điện, điều này đồng nghĩa với việc pin đã bị phồng quá mức cho phép."
Nói một cách đơn giản, công nghệ này sẽ dựa trên pin và các linh kiện xung quanh để phát hiện bất kỳ sự biến dạng bất thường của pin. Trên thực tế, nó có thể sẽ được áp dụng nhiều trong tương lai, giúp người dùng có thể an tâm hơn khi sử dụng smartphone nói riêng và các thiết bị điện tử nói chung.
CÙNG CHUYÊN MỤC
